產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

產品中心/ products

您的位置：首頁 - 產品中心 - 質控模體 - 分辨率測試卡 - JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

產品型號：
更新時間：2024-07-30

簡要描述：JIMA RT RC-05B分辨率測試卡是一款采用半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之間的焦斑尺寸。

在線咨詢

產品詳情

品牌	其他品牌

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡，JIMA RT RC-05B是一款采用半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之間的焦斑尺寸。

16組I&T布局，2x2 mm，8x8 mm硅基，如上圖

下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

Au Slit的數量為3行和2個空格

寬度3至10 μm：T形布局

寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度

L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡實物拍攝圖：

SAG: RC-05B,RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡,JIMA RT RC-05B,日本JIMA卡,X射線分辨率測試卡

在線咨詢

上一篇：gafchromic LD-V1免沖洗膠片
下一篇：FUNSTAR球形凝膠穩定性模型

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

16組I&T布局，2x2 mm，8x8 mm硅基，如上圖

下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

Au Slit的數量為3行和2個空格

寬度3至10 μm：T形布局

寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度

L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡實物拍攝圖：

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

16組I&T布局，2x2 mm，8x8 mm硅基，如上圖

下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

Au Slit的數量為3行和2個空格

寬度3至10 μm：T形布局

寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度

L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡實物拍攝圖：

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

16組I&T布局，2x2 mm，8x8 mm硅基，如上圖

L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm